克列茨kyoritsu共立數(shù)字絕緣高壓搖表兆歐表 ? 絕緣電阻測試最大可達(dá)1TΩ ? 短路電流可達(dá)1.5mA ? 測試電壓范圍為250V-5000V ? PI和DAR的診斷功能 ? 采用最新設(shè)計(jì)的鱷魚夾 ? 配備了堅(jiān)固的便攜箱 ? 濾波功能可減少噪音干擾而有利于穩(wěn)定測試 ? 可顯示條形圖的大顯示屏具有背光功能 ? 通電回路警告功能 ? 設(shè)計(jì)符合國際安全規(guī)格 IEC 61010-1 CAT IV 3

midi LOGGER GL220采用小型、可放心測定的全頻道絕緣輸入方式。可進(jìn)行電壓/溫度/濕度/脈沖/邏輯的多元輸入。 根據(jù)客戶要求提供多種高速電壓測定，可測定范圍擴(kuò)展至10ms取樣（電壓范圍1ch輸入時(shí)）。 此外，內(nèi)置存儲器中搭載2GB大容量閃存，無需使用外部存儲媒體即可實(shí)現(xiàn)長時(shí)間的數(shù)據(jù)収錄。 GL220提高了可對應(yīng)多樣化測量用途的功能性與操作性,從研究開發(fā)到生產(chǎn)線現(xiàn)場，可1人1臺進(jìn)行使

&采用WINDOWS操作系統(tǒng)，操作更方便。 &智能化、數(shù)字化、全中文操作菜單、準(zhǔn)確測量、操作簡便； 　&重量輕，手持設(shè)計(jì)，單人操作，全程自動測量； &大容量存儲，歷史數(shù)據(jù)自動匯集，隨時(shí)查詢； &測試夾（棒）可選，適應(yīng)各種電池檢測 &4.3英寸LCD顯示，中文界面，觸屏操作，使用簡便； &直流大電流測試，抗干擾，測試更準(zhǔn)確； &USB接口數(shù)據(jù)拷貝、INTERNET接口遠(yuǎn)程系統(tǒng)升級

SDY-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量技術(shù),利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，從而提高了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度

RTS-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響。

RTS-9型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙電測組合(亦稱雙位組合)測量新技術(shù),將范德堡測量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下進(jìn)行兩次電測量，能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響。

RTS-3型手持式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

RTS-2/RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

SDY-4型四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀器.